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Defect and microstructure analysis by diffraction /

Snyder, Robert L., 1941-,

Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge - 785 páginas - International union of crystallography monographs on crystallography 10 .

Incluye referencias bibliograficas e indice

0198501897


Cristales--Defectos--Analisis
Difracción
Cristalografía por rayos X

QD945 / S59

548/.83

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