Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
Catálogo de la Biblioteca

Infrared characterization for microelectronics /

Lau, W. S.,

Infrared characterization for microelectronics / W. S. Lauia - 160 páginas : ilustraciones

9810223528


Microelectronica--Materiales--Pruebas
Espectroscopia de infrarrojos
Espectros de absorción

TK7871 / L38

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