Vista normal Vista MARC Vista ISBD

Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale / Electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale Sergei Kalinin, Alexei Gruverman, editors - 2 volúmenes : ilustraciones

ISBN: 9780387286679 (2v. obra completa : encuadernado en tela) 0387286675 (2-v. obra completa : encuadernado en tela)

Subjects--Topical Terms:
Microscopia exploradora de sondas
Nanoelectrónica

LC Class. No.: QH212.S33 / S37

Dewey Class. No.: 502/.8/25