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Pecharsky, Vitalij K.,

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij - 2nd ed. - xxiii, 741 páginas

ISBN: 978038709573

Subjects--Topical Terms:
Rayos X--Difracción--Medición
Polvos--Propiedades ópticas--Medición
Cristalografía por rayos X

LC Class. No.: QC482.D5 / P43 2009

Dewey Class. No.: 548/.83