Estudio sobre los mecanismos de reduccion de la constante dielectrica de peliculas delgadas de dioxido de silicio impurificadas con fluor
Diaz Bucio, Xochitl Monica
Estudio sobre los mecanismos de reduccion de la constante dielectrica de peliculas delgadas de dioxido de silicio impurificadas con fluor - Mexico : El autor, 2003 - 71 p. : il.
Tesis Licenciatura (Fisico)-UNAM, Facultad de Ciencias
Estudio sobre los mecanismos de reduccion de la constante dielectrica de peliculas delgadas de dioxido de silicio impurificadas con fluor - Mexico : El autor, 2003 - 71 p. : il.
Tesis Licenciatura (Fisico)-UNAM, Facultad de Ciencias