Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
Catálogo de la Biblioteca

Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR.

Diaz Bucio, Xochitl Monica

Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR. - Mexico : El autor, 2007. - 89 p. : il.

Tesis Maestria (Maestria en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Instituto de Investigaciones en Materiales

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad