Caracterizacion termica y termoelectronica de obleas de silicio implantado con boro mediante radiometria de fotoportadores.
Garcia Rivera, Jose
Caracterizacion termica y termoelectronica de obleas de silicio implantado con boro mediante radiometria de fotoportadores. - Mexico : El autor, 2007. - 148 p. : il.
Tesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales
Caracterizacion termica y termoelectronica de obleas de silicio implantado con boro mediante radiometria de fotoportadores. - Mexico : El autor, 2007. - 148 p. : il.
Tesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales