Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
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Materials analysis ion channeling : Submicron crystallography /

Feldman, Leonard C.,

Materials analysis ion channeling : Submicron crystallography / Leonard c. feldman, James w. mayer s. - 300 páginas

0122526805


Fasces ionicas
Cristalografía
Cristales--Defectos
Sólidos--Superficies
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