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Electromigration and electronic device degradation / Electromigration & electronic device degradation edited by Aris Christou - xiv, 343 páginas : ilustraciones ;

Titulo del lomo: Electromigration & electronic device degradation

Incluye referencias bibliograficas e indices.

ISBN: 0471584894 (encuadernado en tela : papel alcalino)

Subjects--Topical Terms:
Circuitos integrados--Deterioro
Semiconductores--Fallas
Electrodifusión

LC Class. No.: TK7874 / E537

Dewey Class. No.: 621.3815