Detalles MARC
| 000 -LIDER |
|---|
| campo de control de longitud fija |
01314nam a2200325zi 4500 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NUMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
$$aOCoLC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ULTIMA TRANSACCION |
|---|
| campo de control |
20230621111029.0 |
| 008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA—INFORMACION GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
030919c 2003gw a b 100 0 eng d |
| 020 ## - NUMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
|---|
| Número Internacional Normalizado del libro |
352740435X |
| 035 ## - NUMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
|---|
| Número de control del sistema |
MX001000971803 |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACION |
|---|
| Agencia de catalogación original |
FUG |
| Idioma de catalogación |
spa |
| Agencia que realiza la transcripción |
FUG |
| Agencia que realiza la modificación |
UNAMX |
| 041 ## - CODIGO DE IDIOMA |
|---|
| Código de idioma para texto/pista de sonido o título separado |
ENG |
| 050 14 - CLASIFICACION TOPOGRAFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO (LC) |
|---|
| Número clasificador |
QC611.6D4 |
| Número del ítem |
I575 2002 |
| 084 ## - OTRO NUMERO DE CLASIFICACION |
|---|
| Número clasificador |
General |
| 111 2# - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE DE REUNION |
|---|
| Meeting name or jurisdiction name as entry element |
International Conference on Shallow-Level Centers in Semiconductors |
| Number of part/section/meeting |
(10 : |
| Date of meeting or treaty signing |
2002 : |
| Location of meeting |
Varsovia, Polonia) |
| 245 10 - MENCION DEL TITULO |
|---|
| Título |
Proceedings 10th International Conference on Shallow Level Centers in Semiconductors (SLCS-10) : |
| Parte restante del título |
Warsaw, Poland, 24-27 July 2002 / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
editor-in-chijef M. Stutzmann, guest editor Marek Godlewski |
| 246 30 - FORMA VARIANTE DEL TITULO |
|---|
| Título propiamente dicho/forma breve del título |
Shallow-level centers in semiconductors |
| 264 #1 - DECLARACION DE AVISO DE PRODUCCION, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACION Y DERECHOS DE AUTOR PARA |
|---|
| Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
Weinheim : |
| Nombre del productor, editor, distribuidor, fabricante |
WILEY-VCH, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o aviso de derechos |
c2003 |
| 300 ## - DESCRIPCION FISICA |
|---|
| Extensión |
1 volumen (en varias paginaciones) : |
| Otros detalles físicos |
ilustraciones |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término del tipo de contenido |
texto |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Término de tipo de medio |
sin medio |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE PORTADOR |
|---|
| Término de tipo de transporte |
volumen |
| Fuente |
rdacarrier |
| 490 0# - MENCION DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Physica status solidi conferences, |
| International Standard Serial Number |
1610-1634 ; |
| Volume/sequential designation |
0.2.2003 |
| 650 #4 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Semiconductores |
| Subdivisión general |
Defectos |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 650 #4 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Semiconductores |
| Subdivisión general |
Distribución de impurezas |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 650 #4 - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Centros de impurezas |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 700 1# - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Nombre personal |
Stutzmann, Martin, |
| Término de relación |
editor |
| 700 1# - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Nombre personal |
Godlewski, Marek, |
| Término de relación |
editor |
