Densidad de estados y fotoconductividad en el silicio amorfo hidrogenado (Registro nro. 18271)
[ vista simple ]
| 000 -LIDER | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 00601nam-a2200181-a-4500 |
| 008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA—INFORMACION GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 231130s1989 mx a|||||||||||||||||||spa d |
| 035 ## - NUMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control del sistema | TIM01000105045 |
| 090 ## - NUMERO DE CLASIFICACION TIPO LC ASIGNADO LOCALMENTE (OCLC); NÚMERO DE CLASIFICACION LOCAL (RLIN) | |
| Número de clasificación (OCLC) (R) ; Número de clasificación, CALL (RLIN) (NR) | Mend/1989 |
| 100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL | |
| Nombre del autor | Mendoza Lopez, Doroteo |
| 245 10 - MENCION DEL TITULO | |
| Título | Densidad de estados y fotoconductividad en el silicio amorfo hidrogenado |
| 260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC. (PIE DE IMPRENTA) | |
| Lugar de publicación, distribución, etc | Mexico : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. | El autor, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. | 1989 |
| 300 ## - DESCRIPCION FISICA | |
| Extensión | 111 p |
| 700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL | |
| Nombre personal | Pickin Checkland, William Francis, Dr., asesor |
| 710 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE CORPORATIVO | |
| Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada | Universidad Nacional Autonoma de Mexico. |
| Unidad subordinada | Facultad de Ciencias |
| Estado retirado | Estado perdido | Fuente de clasificación o esquema de estantería | Estado dañado | No para préstamo | Colección | Biblioteca | Biblioteca actual | Ubicación de estantería | Total de préstamos | Numero de clasificación completa | Código de barras | Fecha de la última vez que se vio | Número de copia | Tipo de ítem Koha |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Clasificación de la Biblioteca del Congreso | General | Tesis | Tesis | Tesis | Mend/1989 | TIM-326 | 25/05/2022 | 1 | Tesis |