Detalles MARC
000 -LIDER |
campo de control de longitud fija |
01437nam a2200373 u 4500 |
001 - NUMERO DE CONTROL |
campo de control |
000001797 |
005 - FECHA Y HORA DE LA ULTIMA TRANSACCION |
campo de control |
20231201102421.0 |
035 ## - NUMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
Número de control del sistema |
PIM01000001797 |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACION |
Agencia de catalogación original |
Ingles |
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA—INFORMACION GENERAL |
campo de control de longitud fija |
231130s2010 mx a|||||||||||||||||||spa d |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Soundararajan, D. |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Mangalaraj, D. |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Nataraj, D. |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Dorosinskii, L. |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Santoyo-Salazar, J. |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL |
Nombre personal |
Ko, J.M. |
110 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE CORPORATIVO |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
Bharathiar University. Department of Physics. Thin Films and Nanomaterials Laboratory |
110 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE CORPORATIVO |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
Bharathiar University. Department of Nanoscience and Technology |
110 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE CORPORATIVO |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
National Institute of Metrology |
110 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE CORPORATIVO |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
Universidad Nacional Autonoma de Mexico. Instituto de Investigaciones en Materiales |
110 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE CORPORATIVO |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg |
110 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE CORPORATIVO |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
Hanbat National University. Division of Applied Chemistry and Biotechnology |
222 #0 - TITULO CLAVE |
Título clave |
Current Applied Physics |
245 #0 - MENCION DEL TITULO |
Título |
Ferromagnetism in Zn1 xCrxTe (x = 0.05, 0.15) films grown on GaAs(1 0 0) substrate. |
260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC. (PIE DE IMPRENTA) |
Nombre del editor, distribuidor, etc. |
2010. |
300 ## - DESCRIPCION FISICA |
Extensión |
Vol. 10, no. 3, pp. 771-775. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) |
Nota local |
Articulo |
654 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINOS TEMATICOS FACETADOS |
Término temático principal |
Dilute magnetic semiconductor |
654 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINOS TEMATICOS FACETADOS |
Término temático principal |
ZnCrTe film |
654 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINOS TEMATICOS FACETADOS |
Término temático principal |
Magnetic domains |
654 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINOS TEMATICOS FACETADOS |
Término temático principal |
M-H curve |
654 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINOS TEMATICOS FACETADOS |
Término temático principal |
Origin of ferromagnetism |
856 ## - LOCALIZACION Y ACCESO ELECTRONICOS |
Identificador Uniforme del Recurso (“URI”) |
https://iim-b.bibliotecas.unam.mx:81/opac-tmpl/bootstrap/images/documentos/articulos/2010-151.pdf |
Texto del vínculo |
Acceso texto completo |