Detalles MARC
| 000 -LIDER |
|---|
| campo de control de longitud fija |
01021nam a2200277zi 4500 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ULTIMA TRANSACCION |
|---|
| campo de control |
20230621110704.0 |
| 008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA—INFORMACION GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
071022s1993 xxu 000 0 eng d |
| 020 ## - NUMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
|---|
| Número Internacional Normalizado del libro |
1558992057 |
| 035 ## - NUMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
|---|
| Número de control del sistema |
MX001000658167 |
| 050 ## - CLASIFICACION TOPOGRAFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO (LC) |
|---|
| Número clasificador |
TK7874. |
| Número del ítem |
M369 1993 |
| 084 ## - OTRO NUMERO DE CLASIFICACION |
|---|
| Número clasificador |
Serie |
| 245 00 - MENCION DEL TITULO |
|---|
| Título |
Materials reliability in microelectronics III/ |
| Mención de responsabilidad, etc. |
ed. Kenneth P. Rodbell ... [y otros.] |
| 264 #1 - DECLARACION DE AVISO DE PRODUCCION, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACION Y DERECHOS DE AUTOR PARA |
|---|
| Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
Pittsburg, Pennsylvania : |
| Nombre del productor, editor, distribuidor, fabricante |
Materials Research Society, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o aviso de derechos |
c1993 |
| 300 ## - DESCRIPCION FISICA |
|---|
| Extensión |
497 páginas |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término del tipo de contenido |
texto |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Término de tipo de medio |
sin medio |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE PORTADOR |
|---|
| Término de tipo de transporte |
volumen |
| Fuente |
rdacarrier |
| 490 #0 - MENCION DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Materials research society symposium proceedings |
| Volume/sequential designation |
309 |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
|---|
| Nota general |
"Symposium held April 12-15 1993, San Francisco, California, U.S.A." |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microelectronica |
| Subdivisión general |
Confiabilidad |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microelectrónica |
| Subdivisión general |
Materiales |
| -- |
Pruebas |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMATICO |
|---|
| Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada |
Electrodifusion |
| Subdivisión de forma |
Congresos |
| 700 ## - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE PERSONAL |
|---|
| Nombre personal |
Roedbell, Kenneth P. |
| Término de relación |
editor |
| 710 2# - ASIENTO SECUNDARIO - NOMBRE CORPORATIVO |
|---|
| Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada |
Materials Research Society |
