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Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide / by Harland G. Tompkins, William A. McGahan
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: New York : Wiley, c1999Descripción: 228 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471181722 (encuadernado en tela)Tema(s): Elipsometría | Reflectómetros | Materiales -- Propiedades ópticas | Películas delgadas -- Propiedades ópticas | Superficies (Tecnología)Clasificación CDD: 681/.25 Clasificación LoC:QC443 | T63Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QC443/T63 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 14118 |
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"A Wiley-Interscience publication "
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