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Micro- and nanopatterning polymers / Hiroshi Ito, editor ... [y otros.]
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Series ACS symposium series ; 706Editor: Washington, D.C. : [New York] : American Chemical Society ; Distributed by Oxford University Press, c1998Descripción: xii, 386 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0841235813Tema(s): Microelectrónica -- Materiales | Compuestos poliméricos | Fotorreservas -- MaterialesClasificación CDD: 621.381 Clasificación LoC:TK7871.15P6 | M526Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TK7871.15.P6/M526 Vol. 706 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 14245 |
Total de reservas: 0
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| TK7871.15.M3/M34 1993 Vol. 3.04 Magnetic properties, materials for thermostats, electrical heating and resistance, contacts and connectors / | TK7871.15.N57/D55 vol. 105 Dilute III-V nitride semiconductors and material systems : physics and technology / | TK7871.15.N57/N57 Vol. 482 Nitride semiconductors : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A. / | TK7871.15.P6/M526 Vol. 706 Micro- and nanopatterning polymers / | TK7871.15.P6/P63 Vol. 579 Polymeric materials for microelectronic applications : science and technology / | TK7871.15.S54/P76 Vol. 14 Properties of metal silicides / | TK7871.15.S55/R45 Vol. 85 Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications / |
"Developed from a symposium sponsored by the Division of Polymeric Materials: Science and Engineering at the 214th ACS National Meeting, Las Vegas, Nevada, September 7-11, 1997 "
Incluye referencias bibliograficas e indices
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