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Properties of crystalline silicon / edited by Robert Hull
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TextoIdioma: ENG Series EMIS datareviews series ; 20Editor: London : INSPEC, c1999Descripción: xviii, 405 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0852969333 (empastado)Tema(s): SilicioClasificación CDD: 546.6835 Clasificación LoC:QC611.8S5 | P76Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | QC611.8.S5/P76 VOL. 20 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 14582 |
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