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Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Series International union of crystallography monographs on crystallography ; 10Editor: New York : Oxford University Press, 1999Descripción: 785 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0198501897Tema(s): Cristales -- Defectos -- Analisis | Difracción | Cristalografía por rayos XClasificación CDD: 548/.83 Clasificación LoC:QD945 | S59Otra clasificación: Serie y General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | General | QD945/S59 Vol. 10 Ej. 2 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 18426 | ||
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Incluye referencias bibliograficas e indice
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