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Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
Tipo de material:
TextoSeries Nanoscience and technologyEditor: Berlin : Springer Verlag, c2004Descripción: xx, 496 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540005277 (papel alcalino)Tema(s): Materiales -- Microscopía | Microscopia exploradora de sondasClasificación LoC:TA417.23 | A66Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TA417.23/A66 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 17240 |
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compra 2013/06/06 1603.00
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