Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij
Tipo de material: TextoEditor: New York, New York : Springer Verlag, 2005Descripción: 713 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0387241477 (rústica)Tema(s): Rayos X -- Difracción -- Medición | Polvos -- Propiedades ópticas -- Medición | Cristalografía por rayos XClasificación CDD: 548/.83 Clasificación LoC:QC482.D5 | P43Otra clasificación: GeneralTipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | QC482.D5/P43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 17533 |
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