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X-ray multiple-wave diffraction : theory and application / Shih-Lin Chang
Tipo de material:
TextoSeries Springer series in solid-state sciences ; 143Editor: Berlin : Springer Verlag, c2004Descripción: xii, 431 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540211969 (papel libre de ácido)Tema(s): Cristalografía por rayos X | Rayos X -- DifracciónClasificación CDD: 548/.83 Clasificación LoC:QD945 | C445Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | QD945/C445 Vol. 143 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 17871 |
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compra 2013/06/06 2207.00
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