Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
Catálogo de la Biblioteca

Imagen de cubierta de Amazon
Imagen de Amazon.com

Materials, technology, and reliability for advanced interconnects and low-k dielectrics--2004 : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A / editors, R. J. Carter ... [y otros.]

Colaborador(es): Carter, Richard John, 1948- [editor] | Materials Research Society. Meeting (2004 : San Francisco, California) | Symposim on Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics (2004 : San Francisco, California)Tipo de material: TextoTextoSeries Materials research society symposium proceedings ; 812Editor: Warrendale, Pennsylvania : Materials research society, c2004Descripción: xiii, 402 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1558997628Tema(s): Semiconductores -- Materiales -- Congresos | Semiconductores -- Uniones -- Congresos | Películas dieléctricas -- Congresos | Circuitos integrados -- Materiales -- Congresos | Circuitos integrados -- Confiabilidad -- CongresosClasificación CDD: 621.8/672 Clasificación LoC:TK7871.85 | M38 2004Otra clasificación: General y Serie
Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)

"This proceedings volume contains 60 papers presented at Symposium F, 'Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics, ' which was held April 13-15 at the 2004 MRS Spring Meeting in San Francisco, California."--P. xiii

compra 2013/06/06 1177.00

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Instituto de Investigaciones en Materiales

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad