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Intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon / Peter Pichler
Tipo de material:
TextoSeries Computational microelectronicsEditor: Wien : Springer Verlag, c2004Descripción: xxi, 554 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3211206876 (empastado)Tema(s): Cristales de silicio -- Defectos | Semiconductores -- DifusiónClasificación LoC:TK7871.15S55 | P53Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7871.15.S55/P53 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 18068 |
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