Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale / Sergei Kalinin, Alexei Gruverman, editors
Tipo de material:
TextoEditor: New York : Springer Verlag, c2007Descripción: 2 volúmenes : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780387286679 (2v. obra completa : encuadernado en tela); 0387286675 (2-v. obra completa : encuadernado en tela)Otro título: Electrical and electromechanical phenomena at the nanoscaleTema(s): Microscopia exploradora de sondas | NanoelectrónicaClasificación CDD: 502/.8/25 Clasificación LoC:QH212.S33 | S37Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros
|
Libros Libros | General | QH212.S33/S37 Vol.1 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 18372 | ||
|
Libros
|
Libros Libros | General | QH212.S33/S37 Vol.2 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 18384 |
Total de reservas: 0
compra 2013/06/06 3940.21
No hay comentarios en este titulo.