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Fundamentals of nanoscale film analysis / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
Tipo de material:
TextoEditor: New York : Springer Verlag, c2007Descripción: xiv, 336 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780387292601 (empastado, cubierta dura); 0387292608 (empastado, cubierta dura)Tema(s): Películas delgadas | Materiales nanoestructuradosClasificación CDD: 621.38152 Clasificación LoC:QC176.83 | A47Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QC176.83/A47 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 18518 |
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