Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij
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TextoEditor: New York, New York : Springer Verlag, c2009Edición: 2nd edDescripción: xxiii, 741 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 978038709573Tema(s): Rayos X -- Difracción -- Medición | Polvos -- Propiedades ópticas -- Medición | Cristalografía por rayos XClasificación CDD: 548/.83 Clasificación LoC:QC482.D5 | P43 2009Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QC482.D5/P43 2009 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 19377 |
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