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Applied scanning probe methods XI: scanning probe microscopy techniques / [edited by] Bharat Bhushan, Harald Fuchs
Tipo de material:
TextoSeries Nanoscience and technologyEditor: Berlin : Springer Verlag, c2009Descripción: 235 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9783540850366Tema(s): Microscopia exploradora de sondas | Materiales -- MicroscopíaClasificación LoC:TA417.23 | A67Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TA417.23/A67 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 19290 |
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