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Applied scanning probe methods XII : characterization / edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs
Tipo de material:
TextoSeries Nanoscience and technologyEditor: Berlin : Springer Verlag, 2009Descripción: lv, 224 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9783540850380 (encuadernado); 3540850384 (encuadernado)Tema(s): Microscopia exploradora de sondas | Microscopía exploradora de sondas -- Aplicaciones industriales | Materiales -- MicroscopíaClasificación LoC:TA417.23 | A68Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TA417.23/A68 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 19292 |
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