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Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne Kaplan
Tipo de material:
TextoSeries Quantitative software engineering seriesEditor: Chichester, England : J. Wiley, c2008Edición: 2nd edDescripción: xiv, 536 páginas : hojas (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470027844 (encuadernado en tela)Tema(s): Materiales -- Microscopía | MicroestructuraClasificación CDD: 620.1/1299 Clasificación LoC:TA417.23 | B73 2008Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TA417.23/B73 2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Prestado | 02/09/2024 | 19406 |
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