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Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products / W. Richard Bowen and Nidal Hilal
Tipo de material:
TextoEditor: Burlington, Massachusetts : Elsevier, 2009Descripción: 283 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781856175173Tema(s): Microscopía de fuerza atómica | Microscopía -- TécnicaClasificación LoC:QH212.A78 | B68Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QH212.A78/B68 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 19712 |
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