Advanced measurement and test : selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), may 15-16, 2010, Sanya P.R. China / edited by Yanwen Wu
Tipo de material:
TextoSeries Key engineering materials ; 439-440Editor: Switzerland : Trans Tech Publications, c2010Descripción: xxi, 1643 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenTema(s): Medición -- Congresos | Ensayos (Tecnología) -- CongresosClasificación LoC:T50 | A38Otra clasificación: Hemeroteca
Contenidos:
Part 1 -- Part 2
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Info Vol | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | T50/A38 VOL. 439-440 Pt. 1 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Hemeroteca | 1 | Disponible | 19884 | ||
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Libros
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Libros Libros | Series | T50/A38 VOL. 439-440 Pt. 2 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Hemeroteca | 1 | Disponible | 19885 |
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