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Semiconductor measurements and instrumentation / W. r. runyan

Por: Runyan, W. R [autor]Tipo de material: Texto

TextoSeries Texas Instruments electronics seriesEditor: New York ; México : McGraw-Hill, c1975Descripción: 280 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0070542732Tema(s): SemiconductoresClasificación LoC:QC611.24 | R86Otra clasificación: General

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