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Secondary ion mass spectrometry : an introduction to principles and practices / P.A.W. van der Heide
Tipo de material:
TextoEditor: Hoboken, New Jersey : John Wiley, [2014]Fecha de copyright: ©2014Descripción: xvii, 365 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781118480489 (empastado, cubierta dura)Tema(s): Espectrometría de masas de iones secundariosClasificación CDD: 543/.65 Clasificación LoC:QD96.S43 | V35Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QD96.S43/V35 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 21770 |
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