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An introduction to surface analysis by XPS and AES / John F Watts, John Wolstenholme
Tipo de material:
TextoEditor: Hoboken, NJ : Wiley, 2020Edición: Second editionDescripción: xviii, 267 páginas : ilustraciones (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio ISBN: 9781119417583Tema(s): Superficies (Tecnología) -- Análisis | Espectroscopía de electrones | Espectroscopia de fotoelectrones | Efecto AugerClasificación CDD: 620/.44 Clasificación LoC:TP156.S95 | W375 2020Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TP156.S95/W375 2020 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 23258 |
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