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Peliculas delgadas de SiO/sub 2/ impurificadas con fluor depositadas por plasma para aplicaciones en microelectronica.

Por: Pichardo Pedrero, ErnestoColaborador(es): Alonso Huitron, Juan Carlos [asesor] | Universidad Nacional Autonoma de Mexico. Instituto de Investigaciones en MaterialesTipo de material: TextoTextoIdioma: SPA Detalles de publicación: Mexico : El autor, 2001. Descripción: 145 p. : ilRecursos en línea: Acceso texto completo Nota de disertación: Tesis Maestria (Maestro en Ciencias-Ciencia de Materiales)-UNAM, Instituto de Investigaciones en Materiales
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Tesis Maestria (Maestro en Ciencias-Ciencia de Materiales)-UNAM, Instituto de Investigaciones en Materiales

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