Estudio sobre los mecanismos de reduccion de la constante dielectrica de peliculas delgadas de dioxido de silicio impurificadas con fluor
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TextoIdioma: SPA Detalles de publicación: Mexico : El autor, 2003 Descripción: 71 p. : ilNota de disertación: Tesis Licenciatura (Fisico)-UNAM, Facultad de Ciencias
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Tesis
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Tesis Tesis | General | Diaz.Bu/2003 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | TIM-758 |
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Tesis Licenciatura (Fisico)-UNAM, Facultad de Ciencias
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