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Micro-Raman characterization of WO/ sub 3/ and MoO/ sub 3/ thin films obtained by pulsed laser irradiation.

Título de la Revista: Applied Surface SciencePor: Haro-Poniatowski, E | Jouanne, M | Morhange, J.F | Julien, C | Diamant, R | Fernandez-Guasti, M | Fuentes, G.A | Alonso, J.C | Universidad Autonoma Metropolitana-Iztapalapa | Universite Pierre et Marie Curie. Laboratoire des Milieux Desordonnes et Heterogenes | Universidad Nacional Autonoma de Mexico. Instituto de Investigaciones en MaterialesTipo de material: TextoTextoIdioma: SPA Detalles de publicación: 1998. Descripción: Vol. 127-129, pp. 674-678Tema(s): Pulsed laser irradiation | Raman microscopy | Thin filmsRecursos en línea: Acceso texto completo
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