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Conduccion electronica en capas delgadas de SiO/sub 2/:N crecidas por oxidacion termica de silicio en N/sub 2/O.

Título de la Revista: Superficies y VacioPor: Morales Acevedo, A | Santana, G | Morales Tzompa, E | Instituto Politecnico Nacional. Centro de Investigacion y de Estudios Avanzados. Departamento de Ingenieria ElectricaTipo de material: TextoTextoIdioma: SPA Detalles de publicación: 2003. Descripción: Vol. 16, no. 1, pp. 32-36Recursos en línea: Acceso texto completo
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