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Electron microscopy and analysis / P. j. goodhew and f. j. humphreys

Por: Goodhew, Peter J [autor]Colaborador(es): Humphreys, F. J [autor]Tipo de material: Texto

TextoEditor: London : Taylor & Francis, 1988Edición: 2Descripción: 232 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0850664152; 0-85066-414-4Tema(s): Microscopía electrónicaClasificación LoC:QH212.E4 | G642 1988Otra clasificación: General

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