Scanning electron microscopy : physics of imagen formation and microanalysis / Ludwing Reimer
Tipo de material: TextoSeries Springer series in optical sciences ; 45Editor: Berlin : Springer Verlag, c1985Descripción: xv, 457 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540135308Tema(s): Microscopios electrónicos exploradoresClasificación LoC:QH212.S3 | R45Otra clasificación: SerieTipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Series | QH212.S3/R45 Vol. 45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 8027 |
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