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Particle beam microanalysis : Fundamentals, methods and applications / E. fuchs, h. oppolzer, h. rehme
Tipo de material:
TextoEditor: Weinheim : Vch, c1990Descripción: 507 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3527268847Tema(s): Materiales -- Microscopía | Microscopios electrónicos -- Aplicaciones industrialesClasificación LoC:TA417.23 | F83Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TA417.23/F83 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 5968 |
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