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Accelerated testing : Statistical models, test plans, and data analyses / Wayne Nelson
Tipo de material:
TextoSeries Wiley series in probability and mathematical statistics. applied probability and statistics sectionEditor: New York : Wiley, c1990Descripción: 600 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471522775Tema(s): Prueba acelerada de vida -- Metodos estadisticos | Análisis de datos de tiempo de falla | Confiabilidad (Ingeniería) -- Métodos estadísticosClasificación LoC:QA276 | N45Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QA276/N45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 6610 |
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"a wiley-interscience publication"
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