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Materials reliability in microelectronics III/ ed. Kenneth P. Rodbell ... [y otros.]
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TextoSeries Materials research society symposium proceedings ; 309Editor: Pittsburg, Pennsylvania : Materials Research Society, c1993Descripción: 497 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1558992057Tema(s): Microelectronica -- Confiabilidad -- Congresos | Microelectrónica -- Materiales -- Pruebas -- Congresos | Electrodifusion -- CongresosClasificación LoC:TK7874. | M369 1993Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TK7874/M369 1993 VOL. 309 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 9042 |
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"Symposium held April 12-15 1993, San Francisco, California, U.S.A."
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