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Scanning force microscopy : With applications to electric, magnetic, and atomic forces / Dror sarid

Por: Sarid, Dror [autor]Colaborador(es): University of OxfordTipo de material: TextoTextoSeries Oxford series in optical and imaging sciences ; 5Editor: New York : Oxford University Press, 1994Edición: # rev. edDescripción: 263 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 019509204xTema(s): Microscopía de barrido de fuerzas | Superficies (Física)Clasificación LoC:QH212.S32 | S37 1994Otra clasificación: General
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