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X-ray spectrometry in electron beam instruments / ed. by David B. Williams, Joseph I. Goldstein, and Dale E. Newbury
Tipo de material:
TextoEditor: New York : Plenum, 1995Descripción: 369 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0306448580Tema(s): Haces electrónicos -- Instrumentos | Espectroscopia de rayos-X | Microanálisis por sonda electrónicaClasificación LoC:QC793.5E622 | X73Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QC793.5.E622/X73 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 9088 |
Total de reservas: 0
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