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Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; ed. by Inez Mureinik

Por: Zevin, Lev S [autor]Colaborador(es): Kimmel, Giora [autor] | Mureinik, Inez [editor]Tipo de material: TextoTextoEditor: New York : Springer Verlag, 1995Descripción: 365 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0387945415Tema(s): Rayos X -- Difracción | Rayos X -- Difraccion -- Aplicaciones industrialesClasificación LoC:QC482.D5 | Z48Otra clasificación: General y Reserva
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