Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
Catálogo de la Biblioteca

Imagen de cubierta de Amazon
Imagen de Amazon.com

Optical properties of low dimensional silicon structures / edited by Daniel C. Bensahel, Leigh T. Canham, and Stephano Ossicini

Colaborador(es): Bensahel, Daniel C [editor] | Canham, Leigh T [editor] | Ossicini, Stephano [editor]Tipo de material: TextoTextoIdioma: ENG Series NATO Advanced study institutes series. Series E, Applied sciences ; 244Editor: Dordrecht : Kluwer Academic, 1993Descripción: xii, 239 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0792324463 (papel libre de acido)Tema(s): Diodos de silicon -- Congresos | Silicio -- Propiedades ópticas -- Congresos | Materiales nanoestructurados -- Propiedades ópticas -- Congresos | Materiales porosos -- Propiedades ópticas -- CongresosClasificación CDD: 621.3815/22 Clasificación LoC:TK7871.86 | O67 1993Otra clasificación: Serie
Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)

Ponencias de un taller llevado a cabo en Meylan, Francia, Marzo 1-3, 1993

Incluye referencias bibliograficas e indices.

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Instituto de Investigaciones en Materiales

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad