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Metal impurities in silicon-device fabrication / Klaus Graff
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TextoIdioma: ENG Series Springer series in materials science ; 24Editor: Berlin ; New York : Springer Verlag, c1995Descripción: ix, 216 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540583173 (Berlin : papel libre de acido); 0387583173 (Nueva York : papel libre de acido)Tema(s): Semiconductores -- Defectos | Silicio -- Inclusiones | Silicio -- DefectosClasificación CDD: 621.3815/2 Clasificación LoC:TK7871.85 | G687 1995Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TK7871.85/G687 1995 VOL. 24 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 12343 |
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Navegando Libros Estantes, Ubicación: Libros, Código de colección: Series Cerrar el navegador de estanterías (Oculta el navegador de estanterías)
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| TK7871.85/C485 VOL. 259 Chemical surface preparation, passivation and cleaning for semiconductor growth and processing : Symposium held april 27-29, 1992, san francisco, california, u.s.a. / | TK7871.85/D442 VOL. 378 Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A. / | TK7871.85/D52 VOL. 324 Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A. / | TK7871.85/G687 1995 VOL. 24 Metal impurities in silicon-device fabrication / | TK7871.85/H655 Vol. 77 Impurities confined in quantum structures / | TK7871.85/H94 Vol. 513 Hydrogen in semiconductors and metals : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A. / | TK7871.85/J35 1994 Suppl. 24 Germanium-silicon strained layers and heterostructures / |
Includes bibliographucal references (p. 201-214) and index.
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