Snyder, Robert L.,  1941-, <br/><br/>
Defect and microstructure analysis by diffraction / 
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge 
 - 785 páginas 
 - International union of crystallography monographs on crystallography  10 .
<br/><br/>Incluye referencias bibliograficas e indice 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0198501897 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Cristales--Defectos--Analisis<br/>Difracción<br/>Cristalografía por rayos X
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QD945  / S59 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>548/.83