TY  - BOOK
AU  - Lau,W.S.
TI  - Infrared characterization for microelectronics
SN  - 9810223528
AV  - TK7871 L38
PY  - 1999///
CY  - Singapore
PB  - World Scientific
KW  - Microelectronica
KW  - Materiales
KW  - Pruebas
KW  - Espectroscopia de infrarrojos
KW  - Espectros de absorción
ER  -