Pecharsky, Vitalij K., <br/><br/>
Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / 
by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij 
 - 2nd ed. 
 - xxiii, 741 páginas 
<br/><br/><label>ISBN: </label>978038709573 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Rayos X--Difracción--Medición<br/>Polvos--Propiedades ópticas--Medición<br/>Cristalografía por rayos X
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QC482.D5  / P43 2009 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>548/.83